Epsilon ONE 비접촉 광학 신율계
Epsilon
Epsilon ONE®
Epsilon ONE® 고정밀 비디오 신율계는 업계 최고의 분해능, 정확도 및 속도로 축 변형률을 측정합니다.
혁신적인 즉시 재설정 및 레이저 정렬 기능은 사용 편의성과 테스트 처리량을 극대화합니다. ±10V 출력은 모든 테스트 시스템과 호환됩니다.
Epsilon ONE 체크포인트
Epsilon 신율계용 나이프엣지
아래의 모든 나이프엣지는 나이프엣지를 사용하는 Epsilon 신율계 전 모델에 호환됩니다. 단, 세라믹 로드를 사용하는 고온 신율계, 콘 포인트 접촉이 필요한 특수 신율계, 아스팔트 신율계, 클립온 게이지 및 디플렉토미터는 제외됩니다.
표준 나이프엣지
경화 공구강으로 제작되어 다양한 용도에 사용되며, 원형 및 직사각형 시편 모두에 적용할 수 있습니다. 대부분의 Epsilon 신율계에 기본 제공되는 표준 나이프엣지입니다.
3점 접촉식 나이프엣지
평판 시편에 권장됩니다. 3점 접촉 구조로 평판 시편에서 안정적인 접촉을 보장합니다. 너비가 10 mm 미만인 평판 시편의 경우 표준형 1개와 단일점(single-point) 나이프엣지 1개를 함께 사용할 수 있습니다.
내마모성 카바이드 나이프엣지
경질 재료 시험에서 표준 나이프엣지의 미끄럼 또는 급마모가 발생하는 경우를 위한 대안으로 설계된 초경질, 이중 베벨 나이프엣지입니다. 날 유지성이 뛰어나며 수명이 길어집니다. 철근에는 사용하지 마십시오. 매우 예리하여 응력 집중에 민감한 적용에는 부적합합니다. 사용 온도 등급 540 °C.
노치 민감 재료용 나이프엣지
이 나이프엣지는 이중 베벨 설계와 견고한 공구강 구조로, 파단 시 표준형 또는 내마모형 나이프엣지에서 흔히 발생하는 칩핑 손상을 줄여야 하는 용도에 적합합니다. 또한 날이 지나치게 예리하지 않아, 노치 민감한 적용에도 잘 맞습니다.
V형 나이프엣지
원형 시편용으로 설계되어 신율계를 시편 중심에 자동 정렬합니다. 지름이 다른 시편 사이에서 접촉점이 달라질 수 있으므로, 이 나이프엣지를 쓰는 장비는 동일 지름의 교정용 포스트로 교정해야 합니다. 암이 긴 신율계에서는 이로 인한 오차가 크지 않지만, 암이 짧은 장비에서는 반드시 고려해야 합니다.
연장형 나이프엣지
그립 사이가 매우 가까운 등 추가 길이가 필요한 용도를 위한 나이프엣지입니다. 특별 주문으로만 제공됩니다. 기존 신율계에 후장착할 경우 재교정이 필요합니다.
내식성 스테인리스 나이프엣지
부식 저항이 요구되는 환경에서 사용하도록 설계된 경화 처리 나이프엣지입니다. 주요 적용 분야는 생체의료 시험이며, 염수 용액에 노출될 수 있는 조건에서 사용됩니다.
라운드형 나이프엣지
횡방향 신율계, 및 무딘 날이 필요한 적용을 위해 설계된 나이프엣지입니다. 주로 모델 3575와 같은 횡방향/지름 방향 신율계에서 사용됩니다.
세라믹 나이프엣지
금속 나이프엣지가 과도하게 마모되기 쉬운 경질 금속의 저사이클 피로 적용에서 주로 사용됩니다. 또한 침수형 모델 4030 신율계에서 신율계와 시험편 사이의 갈바닉 부식을 방지하기 위해 사용됩니다.
파괴 역학용 볼트온 나이프엣지
COD 게이지를 파괴 역학 및 피로 균열 성장 시편에 부착하기 위한 재사용 가능한 볼트 고정식 나이프엣지입니다. 2개 1세트로 판매되며, 나이프엣지 각도는 30°입니다. 니켈 도금 공구강으로 제작되었습니다. 2-56 규격, 길이 1/4인치 나사 4개 및 육각 렌치가 포함되며, 나사 구멍은 M2 나사와도 호환됩니다. 사용 온도 등급 500 °C(932 °F)입니다.
여기에 제목 텍스트 추가
여기에 제목 텍스트 추가
Epsilon ONE 데이터시트
기본 정보
브랜드
Epsilon
품목
신율계
측정 항목
연신율, 변형률
모델명
Epsilon ONE®
모델번호
-
측정 사양
시야 범위
52 - 500 mm
작동 거리
일반적으로 150 - 300 mm
해상도
정적 상태: < 0.5 µm
동적 상태: < 2.5 µm
크리프 측정: < 0.1 µm
※ RMS 기준, 설정 및 광학/필터 구성에 따라 달라짐
최소 시편 크기
직경 < 20 μm (0.001")
표점 거리
최소 2 mm
※ 시편 직경 또는 폭의 4배 이상 권장
※ 10 mm 미만 표점 거리 사용 시 문의
정확도 및 성능
신율계 등급
ISO 9513 Class 0.5
ASTM E83 Class B-1 (표점 거리 10 mm 이상에서 일반적 성능)
절대 정확도
PT 모델: ±1 µm 이하 또는 측정값의 0.5% 이내 (일반적으로 ±30 µm 초과하지 않음)
CE 모델: ±1 µm 이하 또는 측정값의 0.5% 이내
열 드리프트
실온 기준 안정성 <0.002%ε/°C (20 µε/°C)
면외 감도
ONE-PT-xx: <1000 µm (0.040")
ONE-CE-xx: <25 µm (0.001")
※ 구매 전 관련 기술 자료(Tech Note) 참조 필수
데이터 및 출력
실시간 데이터 속도
300–3000 Hz, 일반적으로 >2000 Hz
※ 이미지 프레임 속도, 분석, 아날로그 출력 및 디지털 출력 포함
아날로그 출력
±10VDC (단락 보호, 단위 및 범위 선택 가능)
※ 2.4 m 실드 케이블 포함, 시험기 연결용 커넥터 장착
디지털 출력
RS232 기반
16~64비트, 일반적으로 >2000 Hz
1.8 m 실드 null 모뎀 케이블 포함
시험 지원
사이클 시험
반복 시험 주파수 >100 Hz
파형 무관
변형률 제어
단일 하중 및 반복 하중 제어 시험에 모두 적합
전원 및 시스템
전원 사양
100–240 VAC, 50–60 Hz, 100W
※ IEC 320 C14 소켓, 플러그 타입 주문 시 지정 필요
사용 환경
온도: 10–40°C (사용 및 보관)
습도: 20–80% (비응축 환경)
호스트 PC (선택 사항)
Windows 7 이상
해상도 900×550 이상
직렬 포트 또는 USB 포트 1개 필요
좀 더 궁금하신가요? Epsilon ONE FAQ
Epsilon ONE은 어떤 상황에서 가장 효과적인가요?
금속·복합재처럼 아주 작은 변형부터 엘라스토머처럼 1000% 이상의 큰 연신까지, 비접촉 방식으로 정확하게 측정합니다. 텔레센트릭 광학(PT 모델), 고해상도 카메라, 전형적으로 >2000 Hz의 실시간 처리로 탄성계수, 고주기(>100 Hz) 사이클, 크랙 오프닝 변위(COD) 측정에 강합니다.
‘비디오 신율계’는 무엇인가요?
카메라와 렌즈로 표점(마크) 사이의 변위를 추적해 변형률을 구하는 비접촉식 신율계입니다. 얇거나 섬세한 시편, 큰 연신, 고속 시험에서 유리합니다.
DIC(디지털 이미지 상관법)과 무엇이 다른가요?
DIC는 전체 면의 변형장을 얻는 데 적합하며, 분석·후처리가 수반되는 경우가 많습니다. 비디오 신율계(본 제품)는 표점 구간의 변형을 항상 실시간으로 고속·저노이즈 출력해 반복 생산 시험이나 실시간 스트레인 제어에 효율적입니다.
표점 거리( Gauge Length )란 무엇인가요?
변형률 계산의 기준이 되는 두 표식 사이의 초기 거리입니다. 탄성계수 측정에서는 충분한 표점 거리와 올바른 정렬(로드 트레인·그립 중심)이 중요합니다.
텔레센트릭 렌즈(PT 모델)의 역할은 무엇인가요?
시편의 전후 이동에도 배율 변화를 최소화해 스케일 오차를 줄입니다. 따라서 out-of-plane 이동에 따른 측정 왜곡이 크게 완화됩니다
out-of-plane 민감도는 왜 중요한가요?
시편이 카메라 쪽/반대쪽으로 흔들리면 대부분의 광학계에서 스케일 오차가 발생합니다. PT 모델은 허용 전후 이동 폭이 넓어 이 문제를 크게 줄입니다(CE 모델은 보다 엄격한 세팅이 필요).
열 드리프트(예: µε/°C로 표기)는 무엇을 의미하나요?
주변 온도 변화에 따른 영점 변동량입니다. 값이 작을수록 장시간 크리프·릴랙세이션 시험에서 기준선이 안정적입니다.
해상도와 정확도의 차이는 무엇인가요?
해상도는 구분 가능한 최소 변화량(예: µm 수준)이고, 정확도는 실제값에 얼마나 근접하게 측정하는가를 뜻합니다. 두 요소가 모두 좋아야 미세 변형과 대연신에서 신뢰성이 확보됩니다.
정확도 등급 ISO 9513 0,5 / ASTM E83 B-1은 어떤 의미인가요?
신율계의 정확도 성능을 나타내는 표준 등급입니다. 숫자가 낮을수록 요구 조건이 엄격합니다. 본 제품은 조건 충족 시 전형적으로 해당 등급을 달성합니다.
주문할 수 있는 모델 구성은 어떻게 되나요?
우측 공식 홈페이지 버튼을 클릭하면 Epsilon ONE 페이지로 이동할 수 있으며, 이동한 페이지 하단에서 자세한 주문 정보를 확인할 수 있습니다.
Epsilon ONE 비접촉 광학 신율계는 금속, 복합재 등 다양한 재료의 고정밀, 고해상도 비접촉 변형률 및 변위 측정을 실시간으로 수행합니다. 이 시스템은 ISO 0.5/ASTM B-1 등급의 정확도를 제공하며, 최적화된 광학 기술과 신호 처리 알고리즘으로 높은 정확도와 낮은 노이즈를 구현합니다. 또한, 레이저 보조 정렬 시스템과 자동화된 기능으로 빠르고 간편하게 설정 및 테스트를 진행할 수 있으며, 기존 재료 시험 장비에 쉽게 통합됩니다.
Epsilon ONE의 실제 활용 사례
더 빠른 시험
Epsilon ONE® 데모
환경 챔버와 Epsilon ONE®
Applications
환경 챔버를 활용한 시험
Epsilon ONE은 환경 챔버를 활용한 시험에서 훨씬 더 편리한 사용성을 제공합니다. 스윙 어웨이 마운트를 통해 신율계의 설치 없이도 시험 준비가 가능하며, 챔버 문을 닫고 위치에 맞춰 회전시키기만 하면 바로 시험을 시작할 수 있습니다.
시험마다 신율계를 장착할 필요가 없고, 실온에서 유지되기 때문에 시험 온도에 맞춰 안정화되는 시간을 기다릴 필요도 없습니다. 플라스틱, 고무, 복합재, 와이어 등 다양한 재료의 환경 챔버 시험에 사용할 수 있습니다.시험 온도 범위는 -80 °C에서 +300 °C 이상까지 가능하며, 환경 챔버와의 호환성과 적용 가능성은 문의해 주세요.
시험 온도 범위는 -80 °C에서 +300 °C 이상까지 가능하며, 환경 챔버와의 호환성과 적용 가능성은 문의해 주세요.
철근 시험
Epsilon ONE은 접촉식 신율계보다 철근 시험에서 다음과 같은 장점을 제공합니다:
- 광학 시스템으로 인해 시험체 파손 시 발생할 수 있는 위험 요소로부터 실험자와 신율계를 보호
- 신율계를 시험편에 장착할 필요가 없어 빠른 시험 주기 가능
- ONE-500CE 모델 기준 최대 350 mm의 표점 거리 지원 (더 긴 표점 거리도 문의 가능)
철근 표면 상태에 따라 아래 두 가지 방식 모두로 마크를 추적할 수 있으며, 시스템에 기본 포함되어 있습니다:
- 페인트 펜을 이용한 선 마킹
- 스케일이나 녹이 있는 철근용 와이어 클립
플라스틱 및 탄성체 시험
Epsilon ONE의 200CE 광학 패키지는 10 mm 표점 거리에서 200 mm 시야로 1000% 이상의 신율을 측정할 수 있습니다. 광학 시스템과 데이터 처리 알고리즘은 시편이 늘어나면서 마킹 대비가 낮아지더라도 마크를 안정적으로 추적합니다. 이 광학 패키지는 10 mm 미만의 표점 길이를 가진 강화 플라스틱 마이크로 인장 시편의 탄성률 측정에도 적합합니다.
또한 공장에서 보정되어 출고되므로, 보정용 격자판이나 표점 거리 바가 필요 없어 많은 시간을 절약할 수 있습니다.
복합재, 금속, 세라믹 시험
Epsilon ONE은 금속, 복합재, 세라믹, CMC와 같은 고탄성률 재료 시험에 필요한 높은 정확도와 정밀한 해상도를 제공하도록 설계되었습니다.
- 해상도: <0.5 µm (정적), <2.5 µm (동적), <0.1 µm (크리프); 일반적인 광학 및 필터 설정 기준 RMS 해상도
- 신율계 정확도 등급: ISO 9513 Class 0,5 및 ASTM E83 Class B-1 이상 (표점 거리 ≥10 mm 기준)
이들 재료에 대해 탄성계수, 항복점, 응력-변형 곡선, 파단 시 변형률 측정이 가능합니다. 이와 같은 시험에는 정밀한 텔레센트릭 렌즈와 견고하고 정렬이 잘된 그립 사용이 권장됩니다.
비접촉 변위 측정기 (Deflectometer)
Epsilon ONE은 비접촉식 변위 측정기로도 사용할 수 있습니다. 시야 내의 동일 평면상 두 마크 간의 초기 거리와 거리 변화를 마크의 위치와 관계없이 측정할 수 있습니다. 측정 평면에 마크가 존재하는 한, 어떤 방향에서도 사용이 가능하며, 부품, 조립체, 구조물의 비접촉식 변위 측정이 가능합니다. 시간 범위는 넓고, 단발성 또는 최대 200 Hz의 반복 피로 시험에도 적용할 수 있습니다.
박막, 와이어, 폴리머 필름
얇고 섬세한 시편에는 비접촉식 변형률 측정이 가장 적합하며, 경우에 따라 유일한 방법이기도 합니다. Epsilon ONE은 와이어, 금속 박막, 폴리머 필름, 고탄성률 섬유, 섬유 토우, 폴리머 필라멘트 등의 시편에서 탄성계수, 항복점, 응력-변형 곡선, 파단 시 연신율 등을 측정할 수 있습니다.
표점 거리는 시편의 전체 연신 정도에 따라 10 mm 이하에서 최대 185 mm까지 (ONE-200CE 모델 기준) 설정할 수 있습니다. 초고해상도 카메라, 최대 3000 Hz의 실시간 데이터 속도, 고급 신호 처리 기술을 통해 매우 높은 해상도와 정확도, 최소의 노이즈를 구현합니다.
Advantages
해상도, 정확도, 속도
Epsilon ONE은 고속 데이터 처리, 높은 해상도 및 정확도를 위해 정밀 광학 기술과 알고리즘을 결합하여 설계되었습니다.
- 실시간 데이터 속도: 300–3000 Hz
- 해상도: <0.5 µm (정적), <2.5 µm (동적), <0.1 µm (크리프); 일반적인 설정 기준 RMS 해상도
- 신율계 정확도 등급: ISO 9513 Class 0,5 및 ASTM E83 Class B-1 이상 (표점 거리 ≥10 mm 기준)
이와 같은 성능 덕분에 고탄성률 재료에 대해 탄성계수, 항복점, 응력-변형 곡선, 파단 시 변형률까지 정확하게 측정할 수 있습니다. 이 용도에는 정밀 텔레센트릭 렌즈와 정렬이 잘된 그립을 사용하는 것이 권장됩니다.
상시 작동, 실시간 측정
Epsilon ONE은 비접촉식 신율계의 대중적인 활용을 가로막던 가장 큰 장벽 중 하나, 즉 복잡한 사용 단계를 해결했습니다. 항상 작동 상태로, 자동 마크 감지 기능으로 변형률을 측정하거나 마크를 탐색합니다. 마크가 감지되면, 즉시 실시간으로 변형률 측정을 시작합니다. 대부분의 비디오 신율계나 DIC 시스템처럼 시편마다 시작과 정지를 반복할 필요가 없습니다.
결과: Instant Reset 기능으로 2초 이내에 시험 준비 완료.
또한, 별도의 컴퓨터 없이도 동작하며, 최대 3000 Hz의 실시간 데이터 속도로 변형률 출력을 제공합니다.
텔레센트릭 렌즈 설계
정밀 텔레센트릭 렌즈는 비접촉식 신율계를 선택할 때 가장 중요한 요소 중 하나입니다.
많은 시험에서는 시편이 펴지거나, 인장력에 따라 그립이 정렬되는 과정에서 시험축에서 벗어나는 “비정렬(out-of-plane)” 움직임이 발생합니다. 일반 렌즈를 사용할 경우, 시편이 카메라에서 멀어지거나 가까워지면 이미지 크기가 변해 잘못된 변형률을 측정하게 됩니다.
이러한 오차는 신율계가 낮은 ISO 또는 ASTM 정확도 등급으로 전환되게 할 정도로 클 수 있습니다.
텔레센트릭 렌즈는 이러한 out-of-plane 움직임으로 인한 영상 왜곡에 영향을 받지 않으며, 시편이 렌즈에서 멀어지거나 가까워지더라도 카메라 센서에 맺히는 이미지의 크기가 일정하게 유지됩니다.
장점: 시험 중 시편이나 그립이 테스트 축에서 벗어나더라도 변형률 측정 정확도가 유지됩니다. 이는 일반적으로 널리 사용되는 엔토센트릭 렌즈(entocentric lens)로는 구현할 수 없는 성능입니다.
ONE-78PT, ONE-130PT, ONE-52PT 모델에는 정밀 텔레센트릭 렌즈가 적용되어 있습니다.
레이저 보조 정렬 시스템
레이저 보조 정렬 시스템(Laser Assist Alignment System)을 통해 셋업이 더 빠르고 안정적으로 진행됩니다.
Epsilon ONE의 공장에서 정렬된 내장 레이저는 두 가지 기능을 수행합니다:
- 시편 정렬 상태의 빠른 점검
- 시편까지의 거리 설정 – 보정 격자나 표점 거리 바가 필요하지 않음
공장에서 보정되어 출고되므로, 시편까지의 거리만 맞춘 후, 시험기에 Epsilon ONE의 보정된 ±10V 출력을 입력으로 설정하면 바로 시험을 시작할 수 있습니다.
고정밀 로드 프레임 장착 방식
광학식 변형률 측정 시스템에서 로드 프레임의 견고한 고정은 매우 중요합니다.
Epsilon은 거의 모든 시험기에 적합한 장착 솔루션을 제공합니다. Epsilon ONE의 장착 시스템은 스윙-어웨이(Swing-away) 및 직선 이탈(linear retraction) 기능을 포함하고 있어, 광학 장치를 시험에 필요한 위치로 쉽게 이동시킬 수 있습니다.
이 직선 이탈 기능은 레이저 보조 정렬 시스템과 결합되어, 광학 장치를 정확하게 정렬하고 배치하는 데 도움을 줍니다. 이와 같은 장착 및 정렬 방식은 다른 비접촉식 신율계에서 자주 발생하는 오차 원인을 제거해 줍니다.
더 쉬운 사용
Epsilon ONE은 단순한 사용을 목표로 설계되었습니다.
Instant Reset 기능은 자동 마크 감지 및 상시 작동 시스템을 활용하여, 손 한번 흔드는 것만으로 시험 준비를 마칠 수 있습니다. 단 1초 만에 표점 거리 측정이 초기화되며 바로 시험이 가능합니다.
디지털 표시기와 시스템 상태 표시기를 포함한 **소프트웨어 사용자 인터페이스(UI)**가 기본 제공됩니다. 시스템 설정을 위한 고급 UI도 접근 가능합니다.
옵션인 터치 인터페이스는 디지털 표시, 시편 밝기 표시, 시스템 상태 표시, 전체 시스템 기능 및 설정에 대한 접근을 제공합니다. 터치 인터페이스는 시편 가까이에 배치할 수 있어, 시험 시스템의 컴퓨터가 시험 영역 근처에 없을 경우 매우 유용합니다.
공장에서 교정이 완료되어 있으며, 보정 격자나 표점 거리 바가 필요 없어 많은 시간을 절약할 수 있습니다.
클립온 신율계처럼 간단한 검증 방식
Epsilon ONE의 검증은 클립온 신율계와 동일한 방식으로, 기계식 신율계 검증기를 사용해 수행됩니다.
검증기 상에 클립온 신율계를 부착하던 위치에 대비 마크를 적용한 후, 내장 레이저로 작업 거리를 설정합니다. 그다음 검증 절차를 시작하면 됩니다.
기계식 신율계 검증기를 보유하고 있는 경우 사용자가 직접 검증할 수 있으며, 또는 외부 보정 서비스 기관에 의뢰할 수도 있습니다.