Epsilon ONE 비접촉 광학 신율계

시스템 구성
Epsilon ONE 78PT
Epsilon ONE 52PT
Epsilon ONE 200CE
Epsilon ONE 500CE
레이저 정렬
터치 인터페이스
시편 마킹

Epsilon

Epsilon ONE®

비접촉식
|
고정밀
|
고속
|
텔레센트릭 광학

Epsilon ONE® 고정밀 비디오 신율계는 업계 최고의 분해능, 정확도 및 속도로 축 변형률을 측정합니다.

혁신적인 즉시 재설정 및 레이저 정렬 기능은 사용 편의성과 테스트 처리량을 극대화합니다. ±10V 출력은 모든 테스트 시스템과 호환됩니다.

기본 정보

+

브랜드

Epsilon

품목

신율계

측정 항목

연신율, 변형률

모델명

Epsilon ONE®

모델번호

-

측정 사양

+

시야 범위

52 - 500 mm

작동 거리

일반적으로 150 - 300 mm

해상도

정적 상태: < 0.5 µm

동적 상태: < 2.5 µm

크리프 측정: < 0.1 µm

※ RMS 기준, 설정 및 광학/필터 구성에 따라 달라짐

최소 시편 크기

직경 < 20 μm (0.001")

표점 거리

최소 2 mm

※ 시편 직경 또는 폭의 4배 이상 권장

※ 10 mm 미만 표점 거리 사용 시 문의

정확도 및 성능

+

신율계 등급

ISO 9513 Class 0.5

ASTM E83 Class B-1 (표점 거리 10 mm 이상에서 일반적 성능)

절대 정확도

PT 모델: ±1 µm 이하 또는 측정값의 0.5% 이내 (일반적으로 ±30 µm 초과하지 않음)

CE 모델: ±1 µm 이하 또는 측정값의 0.5% 이내

열 드리프트

실온 기준 안정성 <0.002%ε/°C (20 µε/°C)

면외 감도

ONE-PT-xx: <1000 µm (0.040")

ONE-CE-xx: <25 µm (0.001")

※ 구매 전 관련 기술 자료(Tech Note) 참조 필수

데이터 및 출력

+

실시간 데이터 속도

300–3000 Hz, 일반적으로 >2000 Hz

※ 이미지 프레임 속도, 분석, 아날로그 출력 및 디지털 출력 포함

아날로그 출력

±10VDC (단락 보호, 단위 및 범위 선택 가능)

※ 2.4 m 실드 케이블 포함, 시험기 연결용 커넥터 장착

디지털 출력

RS232 기반

16~64비트, 일반적으로 >2000 Hz

1.8 m 실드 null 모뎀 케이블 포함

시험 지원

+

사이클 시험

반복 시험 주파수 >100 Hz

파형 무관

변형률 제어

단일 하중 및 반복 하중 제어 시험에 모두 적합

전원 및 시스템

+

전원 사양

100–240 VAC, 50–60 Hz, 100W

※ IEC 320 C14 소켓, 플러그 타입 주문 시 지정 필요

사용 환경

온도: 10–40°C (사용 및 보관)

습도: 20–80% (비응축 환경)

호스트 PC (선택 사항)

Windows 7 이상

해상도 900×550 이상

직렬 포트 또는 USB 포트 1개 필요

Epsilon ONE은 어떤 상황에서 가장 효과적인가요?

+

금속·복합재처럼 아주 작은 변형부터 엘라스토머처럼 1000% 이상의 큰 연신까지, 비접촉 방식으로 정확하게 측정합니다. 텔레센트릭 광학(PT 모델), 고해상도 카메라, 전형적으로 >2000 Hz의 실시간 처리로 탄성계수, 고주기(>100 Hz) 사이클, 크랙 오프닝 변위(COD) 측정에 강합니다.

‘비디오 신율계’는 무엇인가요?

+

카메라와 렌즈로 표점(마크) 사이의 변위를 추적해 변형률을 구하는 비접촉식 신율계입니다. 얇거나 섬세한 시편, 큰 연신, 고속 시험에서 유리합니다.

DIC(디지털 이미지 상관법)과 무엇이 다른가요?

+

DIC는 전체 면의 변형장을 얻는 데 적합하며, 분석·후처리가 수반되는 경우가 많습니다. 비디오 신율계(본 제품)는 표점 구간의 변형을 항상 실시간으로 고속·저노이즈 출력해 반복 생산 시험이나 실시간 스트레인 제어에 효율적입니다.

표점 거리( Gauge Length )란 무엇인가요?

+

변형률 계산의 기준이 되는 두 표식 사이의 초기 거리입니다. 탄성계수 측정에서는 충분한 표점 거리와 올바른 정렬(로드 트레인·그립 중심)이 중요합니다.

텔레센트릭 렌즈(PT 모델)의 역할은 무엇인가요?

+

시편의 전후 이동에도 배율 변화를 최소화해 스케일 오차를 줄입니다. 따라서 out-of-plane 이동에 따른 측정 왜곡이 크게 완화됩니다

out-of-plane 민감도는 왜 중요한가요?

+

시편이 카메라 쪽/반대쪽으로 흔들리면 대부분의 광학계에서 스케일 오차가 발생합니다. PT 모델은 허용 전후 이동 폭이 넓어 이 문제를 크게 줄입니다(CE 모델은 보다 엄격한 세팅이 필요).

열 드리프트(예: µε/°C로 표기)는 무엇을 의미하나요?

+

주변 온도 변화에 따른 영점 변동량입니다. 값이 작을수록 장시간 크리프·릴랙세이션 시험에서 기준선이 안정적입니다.

해상도와 정확도의 차이는 무엇인가요?

+

해상도는 구분 가능한 최소 변화량(예: µm 수준)이고, 정확도는 실제값에 얼마나 근접하게 측정하는가를 뜻합니다. 두 요소가 모두 좋아야 미세 변형과 대연신에서 신뢰성이 확보됩니다.

정확도 등급 ISO 9513 0,5 / ASTM E83 B-1은 어떤 의미인가요?

+

신율계의 정확도 성능을 나타내는 표준 등급입니다. 숫자가 낮을수록 요구 조건이 엄격합니다. 본 제품은 조건 충족 시 전형적으로 해당 등급을 달성합니다.

주문할 수 있는 모델 구성은 어떻게 되나요?

+

우측 공식 홈페이지 버튼을 클릭하면 Epsilon ONE 페이지로 이동할 수 있으며, 이동한 페이지 하단에서 자세한 주문 정보를 확인할 수 있습니다.

최소 시편 크기
<Ø20 µm
시야 범위
52 – 500 mm

Epsilon ONE 비접촉 광학 신율계는 금속, 복합재 등 다양한 재료의 고정밀, 고해상도 비접촉 변형률 및 변위 측정을 실시간으로 수행합니다. 이 시스템은 ISO 0.5/ASTM B-1 등급의 정확도를 제공하며, 최적화된 광학 기술과 신호 처리 알고리즘으로 높은 정확도와 낮은 노이즈를 구현합니다. 또한, 레이저 보조 정렬 시스템과 자동화된 기능으로 빠르고 간편하게 설정 및 테스트를 진행할 수 있으며, 기존 재료 시험 장비에 쉽게 통합됩니다.

반복 테스트에 최적화되어, 항상 실시간으로 데이터를 제공하며 빠른 처리량을 보장.
고유의 정렬 시스템과 공장 교정으로 정밀한 측정을 지원하며, 최소한의 설정과 공간으로 사용이 편리.
다양한 재료 및 시험 표준에 적용 가능하며, 특히 고탄성 재료, 엘라스토머, 고속 반복 및 크리프 테스트에 적합.

Epsilon ONE의 실제 활용 사례

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더 빠른 시험

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환경 챔버와 Epsilon ONE®

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