Quick Vision Hyper WLI
비접촉 3D 측정기
QV에 백색광 간섭계를 탑재한 복합형 고정도 3D 계측 시스템입니다.
WLI 광학계로 수집한 3D 데이터로부터 3차원 표면 성상 해석/3차원 조도 해석이 가능합니다.
3D 데이터로부터 지정 높이의 치수 측정 및 단면 형상 측정이 가능합니다.
X최대(mm)
~600
Y최대(mm)
~650
Z최대(mm)
~220
최고정도(μm)
0.8+2L/
1000~